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高溫紅外煙氣分析儀如何工作?
點擊次數(shù):1662 發(fā)布時間:2020-08-06
高溫紅外煙氣分析儀,是利用紅外線進行氣體剖析。它依據(jù)待剖析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同,動片薄膜兩頭所受的壓力不同,從而發(fā)生一個電容檢測器的電信號。這樣,高溫紅外煙氣剖析儀就可間接丈量出待剖析組分的濃度。
1.比爾規(guī)律
關于一臺制造好了的高溫紅外煙氣剖析儀,其丈量組分已定,即待剖析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k必定;紅外光源已定,即紅外線經(jīng)過介質前的輻射強度I0必定;氣室長度L必定。從比爾規(guī)律可以看出:經(jīng)過丈量輻射能量的衰減I,就可確認待剖析組分的濃度C了。
2.剖析檢測原理
1.比爾規(guī)律
高溫紅外煙氣剖析儀是依據(jù)比爾規(guī)律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線筆直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾規(guī)律)式中:I--被介質吸收的輻射強度;
I0--紅外線經(jīng)過介質前的輻射強度;
K--待剖析組分對輻射波段的吸收系數(shù);
C--待剖析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)
關于一臺制造好了的高溫紅外煙氣剖析儀,其丈量組分已定,即待剖析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k必定;紅外光源已定,即紅外線經(jīng)過介質前的輻射強度I0必定;氣室長度L必定。從比爾規(guī)律可以看出:經(jīng)過丈量輻射能量的衰減I,就可確認待剖析組分的濃度C了。
2.剖析檢測原理
高溫紅外煙氣剖析儀由兩個獨立的光源別離發(fā)生兩束紅外線該射線束別離經(jīng)過調制器,成為5Hz的射線。依據(jù)實際需要,射線可經(jīng)過一濾光鏡削減背景氣體中其它吸收紅外線的氣體組分的干擾。
高溫紅外煙氣剖析儀紅外線經(jīng)過兩個氣室,一個是充以不斷流過的被測氣體的丈量室,另一個是充以無吸收性質的背景氣體的參比室。作業(yè)時,當丈量室內被測氣體濃度改變時,吸收的紅外線光量發(fā)生相應的改變,而基準光束(參比室光束)的光量不發(fā)生改變。從二室出來的光量差經(jīng)過檢測器,使檢測器發(fā)生壓力差,并變成電容檢測器的電信號。此信號經(jīng)信號調理電路擴大處理后,送往顯現(xiàn)器以及總控的CRT顯現(xiàn)。該輸出信號的巨細與被淵組分濃度成比例。
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